Особливості

• Висока роздільна здатність: 10,1 дюйма, роздільна здатність 1280*800, ємнісний сенсорний екран
• Висока точність: технологія автоматично збалансованого мосту, чотирикінцеве парне тестове налаштування
• Висока стабільність і узгодженість: 15 діапазонів конфігурації
• Висока потужність: рівень сигналу: 20 В змінного струму / 100 мА змінного струму, вбудоване зміщення постійного струму: ±40 В постійного струму / 100 мА постійного струму
• Висока швидкість: архітектура з двома процесорами, швидкість тестування – до 400 разів/с (2,5 мс)
• Зручна експлуатація: операційна база Linux, сенсорне керування, вбудована довідка
• Три типи тестів: точковий тест, список сканування та графічне сканування
• Вимірювання чотирьох параметрів
• Запис одним натисканням, скріншот одним натисканням
• Функція багатопараметричного сканування списку з 201 точкою
• Графічна функція сканування, 4 довільні доріжки, підтримка поділу екрана на 1/2/4 частини
• Тест електропровідності п’єзоелектричних матеріалів, тест діелектричної проникності
• Потужне сортування:
  • Режим LCR: 10 рівнів сортування
  • Графічний режим аналізу: підтримка сортування за умовами кривої
• Висока сумісність: підтримка набору команд SCPI/MODBUS. Сумісність із KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A
• Незалежне керування циліндром 24 В

Застосування

Пасивні компоненти

Оцінка параметрів імпедансу та аналіз характеристик конденсаторів, індукторів, сердечників, резисторів, п’єзоелектричних пристроїв, трансформаторів, чіп-модулів, кристалів і мережевих компонентів.

Напівпровідникові компоненти

Тестування паразитних параметрів та аналіз інтегральних схем драйверів світлодіодів; C-VDC-характеризація варикапів; аналіз паразитних параметрів транзисторів або інтегральних схем.

Інші компоненти

Оцінка імпедансу друкованих плат, реле, вимикачів, кабелів, батарей тощо.

Діелектричні матеріали

Оцінка діелектричних проникностей і кутів втрат пластмас, кераміки та інших матеріалів.

Магнітні матеріали

Оцінка проникності та кута втрат феритів, аморфних і інших магнітних матеріалів.

Напівпровідникові матеріали

Діелектрична проникність, електропровідність та C-V властивості напівпровідникових матеріалів.

Рідкокристалічні матеріали

C-V характеристики, такі як діелектрична проникність і коефіцієнт пружності рідкокристалічних осередків.

П’єзоелектричні матеріали та пристрої

Можливість тестування таких параметрів, як статична ємність, втрати, резонансна частота, антирезонансна частота, коефіцієнт механічного зв’язку тощо для:

• П’єзокерамічних фільтрів
• П’єзокерамічних пасток
• П’єзокерамічних дискримінаторів
• П’єзокерамічних трансформаторів
• Високопотужних ультразвукових генераторів
• Перетворювачів (осциляторів)
• Пристроїв поверхнево-акустичних хвиль
• Електроакустичних пристроїв