Модель TH2692 Insulation Resistance Tester – это тестер сопротивления изоляции с высокой скоростью изменения тестового напряжения, высокой точностью и стабильностью. Он имеет функцию проверки контактов на высоком и низком уровнях, функцию сортировки по верхним и нижним предельным значениям, а также оснащён 37-контактным внешним IO-интерфейсом, интерфейсами RS232C и USB Device, что позволяет широко применять его для автоматизированного тестирования на производственных линиях.

Функция обнаружения коротких замыканий низкого напряжения особенно подходит для тестирования микро-коротких замыканий в батарейных элементах, предотвращая риск выгорания внутренних микро-коротких участков из-за применения высокого напряжения, что может привести к ошибочному определению дефектного продукта как исправного. При тестировании объектов с высокой изоляцией (DUT) ток можно калибровать для минимизации отклонений, вызванных температурой и влажностью окружающей среды.

Основные характеристики

• 5-дюймовый ёмкостный сенсорный экран с разрешением 800 x 480
• Регулируемое тестовое напряжение до 1000В, максимальный тестовый ток 2,4 мА
• Диапазон измерения сопротивления: 10кΩ – 100GΩ
• Быстрое тестирование – один тест занимает около 50 мс
• Возможность сортировки и оценки сопротивления и тока
• Четырёхконтактная функция тестирования для повышенной точности
• Функция тестирования короткого замыкания (battery micro-short circuit test)
• 16 тестовых файлов для быстрого переключения между различными тестовыми условиями
• Интерфейсы: USB Device, RS232C, EXT I/O, Analog Output, USB-HOST

Применение

Тестирование характеристик материалов

Подходит для тестирования полупроводников, наноматериалов, полимеров, диэлектрических материалов, электрохимических материалов, сегнетоэлектриков, графена, керамики, биоматериалов, резины, тонких плёнок, металлов и органических материалов.

Тестирование тока утечки и сопротивления изоляции электронных компонентов

Используется для проверки таких компонентов, как конденсаторы, резисторы, диоды, транзисторы, сенсоры, TFT и CNT компоненты, оптоэлектронные устройства, нано-устройства, солнечные элементы, переключатели и реле.

Тестирование аккумуляторов новой энергетики

• Проверка микро-коротких замыканий в батарейных ячейках
• Тестирование сопротивления изоляции
• I-V характеристика полупроводников и других устройств