Максимальная точность

Как абсолютный эталон достоверности сигнала, оптоволоконный изолированный пробник SigOFIT обеспечивает высочайшую точность измерений:

• Превосходные амплитудно-частотные характеристики

• Точность по постоянному току ≤ 1%

• Уровень шума ≤ 0,45 мВ RMS

• Сдвиг нуля < 0,1% (после 5 минут работы)

• Дрейф усиления < 1%

Идеально для полупроводников третьего поколения

SiC и GaN компоненты способны переключать высокое напряжение за несколько наносекунд, создавая мощные ВЧ-гармоники.
Даже на максимальной полосе пропускания пробник SigOFIT сохраняет около 100 дБ CMRR, эффективно подавляя осцилляции, вызванные синфазными шумами.
Без лишних компонентов — лучший выбор для тестирования SiC/GaN.

Безопасность при тестировании GaN

Короткие измерительные провода и коаксиальный кабель обеспечивают входную ёмкость всего от 1 пФ, что делает пробник максимально безопасным для тестирования GaN-компонентов.

Настоящая оптическая изоляция

Сигнал и питание передаются по оптоволокну с помощью лазеров, без батареек — питание максимально чистое, возможно непрерывное тестирование 365 дней в году.

Широкий диапазон измерений

В отличие от традиционных дифференциальных пробников, которые работают только с высоковольтными сигналами, SigOFIT поддерживает сменные аттенюаторы и может измерять сигналы от ±0,01 В до ±6250 В с отличным соотношением сигнал/шум.

Эффективный и доступный

• Быстрая готовность: работает сразу после включения

• Автоматическое обнуление < 1 секунды, обеспечивает точную передачу сигнала в реальном времени

Применение

• Проектирование приводов, преобразователей и электронных балластов

• Тестирование полумостовых/полноплечевых схем на GaN, SiC, IGBT

• Инверторы, ИБП и импульсные блоки питания

• Тесты безопасности в ВЧ и высоковольтных приложениях

• Оценка силовых полупроводников

• Измерение шунтовых токов

• Поиск и устранение помех (EMI, ESD)

• Дифференциальные измерения