Характеристики

• Частота тестирования: 10 Гц – 130 МГц
• Высокая точность: использование технологии автоматического балансного моста, четырехполюсной пары тестовой конфигурации
• Высокая стабильность и согласованность
• Высокая скорость: максимальная скорость тестирования до 5 мс
• Высокое разрешение: 10,1-дюймовый емкостный сенсорный экран, разрешение 1280×800
• Три метода тестирования: точечный тест, сканирование списка и графическое сканирование
• Функция многопараметрического сканирования списка на 1601 точку
• Измерение четырех параметров
• Функция графического сканирования на 4 канала, каждый канал может отображать 4 кривые, 16 вариантов разделения экрана для каналов и кривых
• Мощная сортировка: 10-ступенчатая сортировка в режиме LCR
• В режиме графического сканирования каждая кривая сортируется отдельно
• Высокая совместимость: поддержка набора инструкций SCPI, совместимость с KEYSIGHT E4990A, E4980A, E4980AL, HP4284A

Применение

Пассивные компоненты:
Оценка импеданса и анализ характеристик конденсаторов, индуктивностей, магнитных сердечников, резисторов, пьезоэлектрических устройств, трансформаторов, чип-компонентов и сетевых компонентов.

Полупроводниковые компоненты:
Тестирование и анализ паразитных параметров интегральных микросхем драйверов светодиодов.
Исследование C-VDC характеристик варикапов.
Анализ паразитных параметров транзисторов или интегральных микросхем.

Другие компоненты:
Оценка импеданса печатных плат, реле, переключателей, кабелей, батарей.

Диэлектрические материалы:
Оценка диэлектрической проницаемости и угла потерь пластиков, керамики и других материалов.

Магнитные материалы:
Анализ магнитной проницаемости и угла потерь ферритов, аморфных материалов и других магнитных материалов.

Полупроводниковые материалы:
Оценка диэлектрической проницаемости, электропроводности и C-V характеристик полупроводниковых материалов.

Жидкокристаллические ячейки:
Оценка диэлектрической проницаемости, упругих констант и C-V характеристик жидкокристаллических ячеек.