Особенности

• Высокое разрешение: 10,1 дюйма, разрешение 1280*800, емкостный сенсорный экран
• Высокая точность: технология автоматически сбалансированного моста, четырехконтактная парная тестовая конфигурация
• Высокая стабильность и согласованность: 15 диапазонов конфигурации
• Высокая мощность: уровень сигнала: 20 В переменного тока / 100 мА переменного тока, встроенное смещение постоянного тока: ±40 В постоянного тока / 100 мА постоянного тока
• Высокая скорость: архитектура с двумя процессорами, скорость тестирования – до 400 раз/с (2,5 мс)
• Удобная эксплуатация: операционная база Linux, сенсорное управление, встроенная справка
• Три типа тестов: точечный тест, сканирование списка и графическое сканирование
• Измерение четырех параметров
• Запись в один клик, скриншот в один клик
• Функция многопараметрического сканирования списка из 201 точки
• Графическая функция сканирования, 4 произвольные дорожки, поддержка разделения экрана на 1/2/4 части
• Тест электропроводности пьезоэлектрических материалов, тест диэлектрической проницаемости
• Мощная система сортировки:
  • Режим LCR: 10 уровней сортировки
  • Графический режим анализа: поддержка сортировки по условиям кривой
• Высокая совместимость: поддержка набора команд SCPI/MODBUS. Совместимость с KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A
• Независимое управление цилиндром 24 В

Применение

Пассивные компоненты

Оценка параметров импеданса и анализ характеристик конденсаторов, индукторов, сердечников, резисторов, пьезоэлектрических устройств, трансформаторов, чип-модулей, кристаллов и сетевых компонентов.

Полупроводниковые компоненты

Тестирование паразитных параметров и анализ интегральных схем драйверов светодиодов; C-VDC-характеризация варикапов; анализ паразитных параметров транзисторов или интегральных схем.

Прочие компоненты

Оценка импеданса печатных плат, реле, выключателей, кабелей, батарей и других элементов.

Диэлектрические материалы

Оценка диэлектрической проницаемости и углов потерь пластиков, керамики и других материалов.

Магнитные материалы

Оценка проницаемости и угла потерь ферритов, аморфных и других магнитных материалов.

Полупроводниковые материалы

Диэлектрическая проницаемость, электропроводность и C-V характеристики полупроводниковых материалов.

Жидкокристаллические материалы

C-V характеристики, такие как диэлектрическая проницаемость и коэффициент упругости жидкокристаллических ячеек.

Пьезоэлектрические материалы и устройства

Возможность тестирования таких параметров, как статическая емкость, потери, резонансная частота, антирезонансная частота, коэффициент механической связи и других для:

• Пьезокерамических фильтров
• Пьезокерамических ловушек
• Пьезокерамических дискриминаторов
• Пьезокерамических трансформаторов
• Высокомощных ультразвуковых генераторов
• Преобразователей (осцилляторов)
• Устройств поверхностно-акустических волн
• Электроакустических устройств