Характеристики

• Скорость тестирования до 1800 раз/с (>10 кГц), без времени срабатывания реле
• Уровень тестирования до 20 В RMS
• Встроенное смещающее напряжение ±40 В / ±100 мА / 2 А
• Удобный пользовательский интерфейс: нижний уровень Linux, встроенный справочный файл
• 10,1-дюймовый емкостный сенсорный экран 1280×800
• Около 100 МБ памяти для хранения настроек в устройстве и возможность сохранения большого количества файлов на USB-накопителе
• Поддержка ПК для конвертации файлов предыдущих моделей с целью обеспечения совместимости

Применение

■ Пассивные компоненты:
Оценка импеданса и анализ характеристик конденсаторов, индуктивностей, магнитных сердечников, резисторов, пьезоэлектрических устройств, трансформаторов, чип-компонентов и сетевых компонентов.

■ Полупроводниковые компоненты:
Тестирование и анализ паразитных параметров интегральных микросхем драйверов светодиодов.
Исследование C-VDC характеристик варикапов.
Анализ паразитных параметров транзисторов или интегральных микросхем.

■ Другие компоненты:
Оценка импеданса печатных плат, реле, выключателей, кабелей, батарей.

■ Диэлектрические материалы:
Оценка диэлектрической проницаемости и угла потерь пластмасс, керамики и других материалов.

■ Магнитные материалы:
Анализ магнитной проницаемости и угла потерь ферритов, аморфных материалов и других магнитных материалов.

■ Полупроводниковые материалы:
Оценка диэлектрической проницаемости, электропроводности и C-V характеристик полупроводниковых материалов.

■ Жидкокристаллические ячейки:
Оценка диэлектрической проницаемости, упругих констант и C-V характеристик жидкокристаллических ячеек.