Особенности
- Высокая точность: использование технологии автоматического балансирования моста, четырёхтерминальная тестовая конфигурация
- Высокая скорость: максимальная скорость тестирования – 5,6 мс
- Высокое разрешение: 7-дюймовый экран, разрешение 800×480
- Функция тестирования многоточечных параметров (10 точек)
- Функция математических вычислений
- Автоматическое определение полярности варикапа
- Функция скриншота одним нажатием
- Функция записи данных одним нажатием
- 10-уровневая сортировочная функция, звуковое и световое оповещение о результатах сортировки
- Большой объём памяти:
- Встроенная память: 40 наборов файлов настроек
- Расширение: хранение до 500 наборов файлов настроек, изображений и записей данных через USB
- Высокая совместимость: поддержка команд SCPI, совместимость с KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A
Применение
Пассивные компоненты
Анализ параметров импеданса и производительности конденсаторов, индукторов, магнитных сердечников, резисторов, пьезоэлектрических устройств, трансформаторов, чипсетов, аппаратных и сетевых компонентов и др.
Полупроводниковые компоненты
Тестирование и анализ паразитных параметров интегральных схем драйверов светодиодов; исследование C-V и постоянного тока варикапов; анализ паразитных параметров транзисторов и интегральных схем.
Другие компоненты
Оценка импеданса печатных плат, реле, переключателей, кабелей, батарей и др.
Диэлектрические материалы
Оценка диэлектрической проницаемости и угла потерь пластиковых, керамических и других материалов.
Магнитные материалы
Оценка проницаемости и угла потерь ферритов, аморфных и других магнитных материалов.
Полупроводниковые материалы
Оценка диэлектрической проницаемости, электропроводности и характеристик C-V полупроводниковых материалов.
LCD-матрицы
Анализ характеристик C-V, таких как диэлектрическая проницаемость и упругий модуль.